Core Technology
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DRAM 검사기술
Bios Level의 Intel Smart BIST(Built-in Self Test)를 이용함으로 적은 부피와 비용으로
System Drop이 발생하지 않고, Bios기술을 이용하여 파라미터 변경을 통해 마진 테스트가 가능합니다.
Smart BIST(Built-in Self Test) 기반 DRAM Tester는 현재 ATE Tester의 Test Clock 저하 및
Intel CPU Base
하드웨어 중심의 테스터 시장에서 SW 알고리즘과 Intel의 HW 조합을 통해 더욱 효과적이고 안정적인 System을 구현합니다.
01
Integrate
동일한 검사 알고리즘으로 Component, Module, Burn-in 실장기 등 모든 공정에 확대 적용 가능합니다.
02
Environment
실제 메모리 Clock으로 유저와 동일한 환경에서 파라미터 마진 테스트를 수행하므로 신뢰성을 확보합니다.
03
Support
상위 Clock이 발표되어도 Intel CPU와 BIOS상에서 개발로 빠른 개발/지원이 가능합니다.
04
Test Process
PC 부팅과정
