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DRAM Test Solution
DRAM Module Tester
Intel Smart BIST(Built-in Self Test)기반 DRAM 검사기술을 확보하여 Real Clock, 빠른 검사시간, System Drop無, PPR 등 가능하며, Dram Module 및 Component 검사/분석을 할 수 있어 해당 제조라인의 최종 제품 검사/분석에 매우 효과적으로 사용될 수 있습니다.
01
DRAM ATE(64~128pare)
Intel Smart BIST(Built-in Self Test)기반 DRAM Tester와 Handler 기술을 보유하고 있으며 고객의 요구에 맞는 ATE 장비를 제공 할 수 있습니다.
02
DC Tester
하나의 Tester에서 Dram 모듈 및 Component(Jig 적용) 테스트가 가능하여 해당 제조라인에서 효율적으로 사용 될 수 있습니다.
03
DRAM Module Tester
DRAM Memory Module을 Full Memory Test하여 에러로그 분석 및 불량 유무를 확인 하는 설비
- Real Clock TEST
- FULL MEMORY TEST
- 에러 로그 및 분석
- PPR 기능
- TEST pattern 30종 제공
DRAM ATE(64~128pare)
DRAM Component 검사 후 양불 , Repair 판정하여 Sorting 하는 반도체 자동 시험 장비
- CPGC기반 TESTER
- DC TEST 기능
- PPR 기능
- MES 대응
- 기능요소 Module화로 신속한 고장 조치
DC Tester
DRAM Memory Module에 대하여 DC TEST를 하여 불량 유무를 확인 하는 설비
- Pattern 편집 기능
- 통신을 통한 자동화 대응
